সিলিকন

একটি মৌলিক পদার্থ
(Silicon থেকে পুনর্নির্দেশিত)


সিলিকন একটি মৌল, এর প্রতীক Siপারমাণবিক সংখ্যা ১৪। ভর হিসেবে এটি বিশ্বের অষ্টম সর্বাধিক প্রাপ্ত মৌল তবে এটি প্রকৃতিতে খুব কমই বিশুদ্ধ অবস্থায় পাওয়া যায়। এটি মূলত ধুলি, বালি গ্রহাণুপুঞ্জ এবং গ্রহসমুহে সিলিকনের অক্সাইড (সিলিকা) বা সিলিকেট আকারে থাকে। পৃথিবীর ভূত্বকের প্রায় ৯০% সিলিকেট যৌগে গঠিত এবং এটি পৃথিবীর ভূত্বকে অক্সিজেনের পর দ্বিতীয় সর্বাধিক প্রাপ্ত মৌল (ভর হিসেবে প্রায় ২৮%)।[]

সিলিকন   ১৪Si
Spectral lines of Silicon
উচ্চারণ
উপস্থিতিcrystalline, reflective with bluish-tinged faces
আদর্শ পারমাণবিক ভরAr°(Si)
পর্যায় সারণিতে সিলিকন
হাইড্রোজেন হিলিয়াম
লিথিয়াম বেরিলিয়াম বোরন কার্বন নাইট্রোজেন অক্সিজেন ফ্লোরিন নিয়ন
সোডিয়াম ম্যাগনেসিয়াম অ্যালুমিনিয়াম সিলিকন ফসফরাস সালফার ক্লোরিন আর্গন
পটাশিয়াম ক্যালসিয়াম স্ক্যান্ডিয়াম টাইটেনিয়াম ভ্যানাডিয়াম ক্রোমিয়াম ম্যাঙ্গানিজ আয়রন Cobalt Nickel Copper Zinc Gallium Germanium Arsenic Selenium Bromine Krypton
Rubidium Strontium Yttrium Zirconium Niobium Molybdenum Technetium Ruthenium Rhodium Palladium Silver Cadmium Indium Tin Antimony Tellurium Iodine Xenon
Caesium Barium Lanthanum Cerium Praseodymium Neodymium Promethium Samarium Europium Gadolinium Terbium Dysprosium Holmium Erbium Thulium Ytterbium Lutetium Hafnium Tantalum Tungsten Rhenium Osmium Iridium Platinum Gold Mercury (element) Thallium Lead Bismuth Polonium Astatine Radon
Francium Radium Actinium Thorium Protactinium Uranium Neptunium Plutonium Americium Curium Berkelium Californium Einsteinium Fermium Mendelevium Nobelium Lawrencium Rutherfordium Dubnium Seaborgium Bohrium Hassium Meitnerium Darmstadtium Roentgenium Copernicium Nihonium Flerovium Moscovium Livermorium Tennessine Oganesson
C

Si

Ge
অ্যালুমিনিয়ামসিলিকনফসফরাস
পারমাণবিক সংখ্যা১৪
মৌলের শ্রেণীধাতুকল্প
গ্রুপগ্রুপ  ১৪; (কার্বন গ্রুপ)
পর্যায়পর্যায় ৩
ব্লক  পি-ব্লক
প্রতিটি কক্ষপথে ইলেকট্রন সংখ্যা2, 8, 4
ভৌত বৈশিষ্ট্য
দশাকঠিন
গলনাঙ্ক1687 কে ​(1414 °সে, ​2577 °ফা)
স্ফুটনাঙ্ক3538 K ​(3265 °সে, ​5909 °ফা)
ঘনত্ব (ক.তা.-র কাছে)2.3290 g·cm−৩ (০ °সে-এ, ১০১.৩২৫ kPa)
তরলের ঘনত্বm.p.: 2.57 g·cm−৩
ফিউশনের এনথালপি50.21 kJ·mol−১
বাষ্পীভবনের এনথালপি359 kJ·mol−১
তাপ ধারকত্ব19.789 J·mol−১·K−১
বাষ্প চাপ
P (Pa) ১০ ১০০ ১ k ১০ k ১০ k
at T (K) 1908 2102 2339 2636 3021 3537
পারমাণবিক বৈশিষ্ট্য
জারণ অবস্থা4, 3 , 2 , 1[] -1, -2, -3, -4amphoteric oxide
তড়িৎ-চুম্বকত্ব1.90 (পলিং স্কেল)
আয়নীকরণ বিভব
(আরও)
পারমাণবিক ব্যাসার্ধempirical: 111 pm
সমযোজী ব্যাসার্ধ111 pm
ভ্যান ডার ওয়ালস ব্যাসার্ধ210 pm
বিবিধ
কেলাসের গঠনহিরক ঘনক
শব্দের দ্রুতিপাতলা রডে: 8433 m·s−১ (at 20 °সে)
তাপীয় প্রসারাঙ্ক2.6 µm·m−১·K−১ (২৫ °সে-এ)
তাপীয় পরিবাহিতা149 W·m−১·K−১
তড়িৎ রোধকত্ব ও পরিবাহিতা২০ °সে-এ: 103 [] Ω·m
চুম্বকত্বdiamagnetic[]
ইয়ংয়ের গুণাঙ্ক185[] GPa
কৃন্তন গুণাঙ্ক52[] GPa
আয়তন গুণাঙ্ক100 GPa
পোয়াসোঁর অনুপাত0.28[]
(মোজ) কাঠিন্য7
ক্যাস নিবন্ধন সংখ্যা7440-21-3
সিলিকনের আইসোটোপ
প্রধান আইসোটোপ[] ক্ষয়
প্রাচুর্যতা অর্ধায়ু (t১/২) মোড পণ্য
২৮Si 92.2% স্থিতিশীল
২৯Si 4.7% স্থিতিশীল
৩০Si 3.1% স্থিতিশীল
৩১Si ট্রেস ২.৬২ h β ৩১P
৩২Si ট্রেস ১৫৩ y β ৩২P
বিষয়শ্রেণী বিষয়শ্রেণী: সিলিকন
| তথ্যসূত্র

আবিষ্কার

সম্পাদনা

১৭৮৭ সালে বিজ্ঞানী অ্যান্টনি ল্যাভয়সিয়ে প্রথম সিলিকন শনাক্ত করেন। কিন্তু, ১৮২৪ সালে বিজ্ঞানী বার্জেলিয়াসকে মৌল হিসেবে সিলিকন আবিষ্কারের কৃতিত্ত্ব দেয়া হয়।

বৈশিষ্ট্য

সম্পাদনা
 
সিলিকনের দৃশ্যমান বর্ণালী

সিলিকন কক্ষ তাপমাত্রায় কঠিন পদার্থ এবং এর গলনাঙ্ক এবং হিমাংক যথাক্রমে ১৪১৪ এবং ৩২৬৫ ডিগ্রী সেলসিয়াস। এর তরল অবস্থার ঘনত্ব এর কঠিন অবস্থার ঘনত্বের চেয়ে বেশি। কঠিনে পরিনত করা হলে এর আয়তন অন্যান্য পদার্থের ন্যায় হ্রাস পায় না বরং বৃদ্ধি পায়। এই ধর্মটি পানির বরফে পরিনত হওয়ার সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ। এর তাপ পরিবাহকত্ব অপেক্ষাকৃত বেশি যার মান প্রায় ১৪৯ ওয়াট·মি−1·কেলভিন−1 বিশুদ্ধ কেলাসাকার সিলিকন ধূসর বর্ণের যার ধাতব দ্যুতি বিদ্যমান। সিলিকন শক্ত, ভঙ্গুর এবং সহজে চেপ্টা করা যায়। কার্বন এবং জার্মেনিয়ামের ন্যায় এটি হীরকের ন্যায় ঘনকাকার কেলাস গঠন করে যার ল্যাটিস দুরত্ব ০.৫৪৩০৭১০ ন্যনোমিটার (৫.৪৩০৭১০ Å).[]

যৌগসমূহ

সম্পাদনা

রাসায়নিক বিক্রিয়া

সম্পাদনা

ব্যবহার

সম্পাদনা

সিলিকন সবচেয়ে বেশি ব্যবহার করা হয় ইলেকট্রনিক শিল্পে।

তথ্যসূত্র

সম্পাদনা
  1. "Standard Atomic Weights: সিলিকন"CIAAW। ২০০৯। 
  2. Prohaska, Thomas; Irrgeher, Johanna; Benefield, Jacqueline; Böhlke, John K.; Chesson, Lesley A.; Coplen, Tyler B.; Ding, Tiping; Dunn, Philip J. H.; Gröning, Manfred; Holden, Norman E.; Meijer, Harro A. J. (২০২২-০৫-০৪)। "Standard atomic weights of the elements 2021 (IUPAC Technical Report)"Pure and Applied Chemistry (ইংরেজি ভাষায়)। আইএসএসএন 1365-3075ডিওআই:10.1515/pac-2019-0603 
  3. Ram, R. S.; ও অন্যান্য (১৯৯৮)। "Fourier Transform Emission Spectroscopy of the A2D–X2P Transition of SiH and SiD" (পিডিএফ)J. Mol. Spectr.190: 341–352। পিএমআইডি 9668026 
  4. Si - silicon. New Semiconductor Materials. Characteristics and Properties. Ioffe Institute
  5. Magnetic susceptibility of the elements and inorganic compounds, in Lide, D. R., সম্পাদক (২০০৫)। CRC Handbook of Chemistry and Physics (86th সংস্করণ)। Boca Raton (FL): CRC Press। আইএসবিএন 0-8493-0486-5 
  6. কনদেব, এফ.জি.; ওয়াং, এম.; হুয়াং, ডব্লিউ.জে.; নাইমি, এস.; আউডি, জি. (২০২১)। "The NUBASE2020 evaluation of nuclear properties" [পারমাণবিক বৈশিষ্ট্যের নুবেস২০২০ মূল্যায়ন] (পিডিএফ)চাইনিজ ফিজিক্স সি (ইংরেজি ভাষায়)। ৪৫ (৩): ০৩০০০১। ডিওআই:10.1088/1674-1137/abddae 
  7. http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/tables/elabund.html
  8. O'Mara, William C. (১৯৯০)। Handbook of Semiconductor Silicon Technology। William Andrew Inc.। পৃষ্ঠা 349–352। আইএসবিএন 0-8155-1237-6। সংগ্রহের তারিখ ২০০৮-০২-২৪ 

আরও দেখুন

সম্পাদনা

বহিঃসংযোগ

সম্পাদনা